更新時間:2024-06-22
儀器型號:
QuaNix4200P涂層測厚儀(分體式)更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復雜區域測量,QuaNix4200P涂層測厚儀(分體式)零位穩定,無需校準,溫度補償,紅寶石探頭,*的直流采樣技術
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QuaNix4200P分體式涂層測厚儀
QuaNix4200P涂層測厚儀(分體式)更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復雜區域測量,QuaNix4200P涂層測厚儀(分體式)零位穩定,無需校準,溫度補償,紅寶石探頭,*的直流采樣技術。
QuaNix4200P | |
測量范圍 | QNIX4200P(分體型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um |
QNIX4200P5(分體型):Fe:0-5000um;NFe:0-5000um | |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%讀數 | |
1000-3000um≤±3%讀數 | |
zui小接觸面 | 10×10mm/QNix4500 |
zui小曲率半徑 | 凸面:3mm;凹面:25mm |
zui小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |